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印刷電路板性能測試服務 UL臺灣新實驗室成立

文章出處:http://bentengpersadamultindo-jember.com網(wǎng)責任編輯:恒成和電路板作者:恒成和線路板人氣:-發(fā)表時間:2015-11-19 10:53:00

UL于臺北的印刷電路板性能測試服務實驗室日前正式開幕,配合廣受業(yè)界肯定的UL746及UL796的安全認證,為當?shù)赜∷?a href="http://bentengpersadamultindo-jember.com">電路板上下游提供更完整的產(chǎn)品規(guī)范測試及檢測服務。

隨著人類生活的全面電子化,不論是玩具、汽車、手機、網(wǎng)路、云端伺服器、乃至于穿戴裝置與隨身醫(yī)療配件,印刷電路板都是產(chǎn)品內不可缺少的零件,帶著重要的角色。為配合產(chǎn)業(yè)發(fā)展,UL選擇于臺灣印刷電路板制造業(yè)的重鎮(zhèn),發(fā)展最新印刷電路板性能測試服務實驗室,主要提供三項可靠度與性能測試服務,包括CAF陽極玻纖紗電化學遷移成長及IST互連應力試驗兩項可靠度試驗,與針對訊號完整性的SET2DIL單端阻抗訊號損失試驗性能測試。

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CAF是針對電路板在長期使用下的絕緣可靠度試驗,向來是須有高可靠度要求的終端產(chǎn)品客戶,如伺服器、汽車電子及醫(yī)療電子產(chǎn)業(yè),對印刷電路板及其材料能力的重點評估項目。UL臺灣的CAF試驗偏壓最高可提供到1000VDC,可滿足絕大部分制造商的測試需求。

IST提供一個快速檢驗電路板導通性能長期可靠度試驗方法,此方法可以縮短傳統(tǒng)溫度循環(huán)測試時間過長的問題。透過專用測試板及客制化的測試板設計,可快速提供電路板對導通性能的檢測,以利客戶認證與制程改善檢驗。

SET2DIL/Delta-L是Intel主導的測試方法,針對訊號完整性要求高的電路板,進行高頻訊號性能測試。是針對PWB制程與材料評估的重要測試。

UL電子科技產(chǎn)業(yè)大中華區(qū)工程部總監(jiān)蔡英哲指出,現(xiàn)今電路板設計追求高品質、高密度、高速應用,而UL是唯一可涵蓋物性、化性及電性的全方位實驗室;加上提供測試前諮詢與設計輔導,以及測試后的失效分析找出關鍵問題根源,有助制造商優(yōu)化產(chǎn)品,在競爭市場中成為焦點。

UL臺灣印刷電路板性能實驗室的成立象徵進一步提升電路板產(chǎn)業(yè)的整體競爭力,將各種資源做到最充分的整合及發(fā)揮,讓臺灣電路板產(chǎn)業(yè)可以在地完成國際認同的檢驗測試。未來UL也會持續(xù)關注市場發(fā)展,逐步擴充其他印刷電路板性能測試項目。

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